Tête de numérisation laser Galvo 3D Chine avec axe XYZ – GO3D-T

Brève description:

Prix unitaire:Négociable

Modalités de paiement:100 % à l'avance

Mode de paiement:T/T, Paypal, carte de crédit...

Pays d'origine:Chine

Envoyez-nous un e-mail

Détail du produit

Mots clés du produit

GO3D-T Tête de scanner laser Galvo à mise au point dynamique XYZ à 3 axes pour le marquage laser et d'autres applications

La tête du scanner laser galvo 3D de la série GO3-T est dotée de l'axe XYZ.L'axe Z fonctionne comme un levier de mise au point, qui modifiera la distance de travail entre l'objectif f-theta et les objets en fonction de la hauteur de l'objet.En travaillant avec le contrôleur DLC2-M4-3D et le logiciel EZCAD3, le traitement laser tel que le marquage peut être effectué facilement et efficacement.

Photos du produit

FAQ

Quelle est la différence entre le galvo 3D et le galvo 2D ?

Application typique du scanner 3D
Marquage de surface, relief, nettoyage, texture de moule, traitement de surface.

Application typique du scanner 2D

Marquage, traitement des vols en ligne, fabrication additive

Caractéristiques

Modèle:	Série GO3D-T
Protocole	XY2-100
Facteur d'expansion du faisceau	2,0X		1,67X		1,85X
Ouverture d'entrée XY	10mm	12mm	10mm	12mm	10mm		12mm
Ouverture d'entrée	5,00 mm	6,00 mm	5,98 mm	7,18 mm	5,40 mm		6,48 mm
Longueur d'onde	GO3-T-355		GO3D-T-532/1064		GO3D-T-10600
Protocole	XY2-100
Vitesse de marquage	6000 mm/s
Vitesse de positionnement	12 m/s	10 m/s	12 m/s	10 m/s	12 m/s	10 m/s	12 m/s	10 m/s
Champ de marquage	150*150 mm ±35 mm avec objectif F=254
Champ de marquage	Une valeur Z plus grande peut être obtenue avec un objectif F-thêta plus grand.
Source de courant	15 V CC 3 A
Champ de marquage	150150±30mm
Champ de marquage	une valeur Z plus profonde peut être atteinte en utilisant un objectif F-thêta plus grand.
Performances dynamiques
Temps d'erreur de suivi	0,22 ms	0,36 ms	0,22 ms	0,36 ms	0,22 ms	0,36 ms	0,22 ms	0,36 ms
Répétabilité	＜22urad	＜22urad	＜22urad	＜22urad	＜22urad	＜22urad	＜22urad	＜22urad
Gagner en dérive	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K	80 ppm/K
Dérive décalée	30urad/K	30urad/K	30urad/K	30urad/K	30urad/K	30urad/K	30urad/K	30urad/K
1% de la pleine échelle	0,30 ms	0,40 ms	0,30 ms	0,40 ms	0,30 ms	0,40 ms	0,30 ms	0,40 ms
10% de la pleine échelle	0,80 ms	1,20 ms	0,80 ms	1,20 ms	0,80 ms	1,20 ms	0,80 ms	1,20 ms
Non-linéarité	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad	＜0,9mrad
Dérive longue durée sur 8 heures	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad	＜0,3 mrad
Performances optiques
Déflexion typique	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad	±0,39rad
Gain d'erreur	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad
Décalage zéro	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad	＜5mrad
Température de fonctionnement	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃	10-40 ℃
Température de stockage	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃	-20-60 ℃